點(diǎn)擊查看：2015計(jì)算機(jī)三級(jí)《軟件測(cè)試技術(shù)》預(yù)測(cè)題及答案匯總

　　簡(jiǎn)答題

　　黑盒測(cè)試有哪幾種方法?

　　邊界值分析法等價(jià)類劃分法錯(cuò)誤推測(cè)法因果圖法場(chǎng)景法

　　什么是回歸測(cè)試?回歸測(cè)試的目的是什么?

　　答：定義：是指在修改了源代碼后，用原有的測(cè)試用例進(jìn)行重新進(jìn)行測(cè)試以確認(rèn)修改沒(méi)有引入新的錯(cuò)誤或?qū)е缕渌a產(chǎn)生錯(cuò)誤

　　目的：所做的修改達(dá)到了預(yù)定的目的，如錯(cuò)誤得到了改正，新功能得到了實(shí)現(xiàn)，能夠適應(yīng)新的運(yùn)行環(huán)境等，不影響軟件原有功能的正確性。

　　靜態(tài)測(cè)試

　　是一種不通過(guò)執(zhí)行程序而進(jìn)行測(cè)試的技術(shù)，其關(guān)鍵功能是檢查軟件的表示和描述是否一致，沒(méi)有沖突或者沒(méi)有歧義\

　　自動(dòng)化測(cè)試

　　通過(guò)測(cè)試工具或其他手段，按照測(cè)試工程師的預(yù)定計(jì)劃對(duì)軟件產(chǎn)品進(jìn)行自動(dòng)的測(cè)試，它是軟件測(cè)試的一個(gè)重要組成部分，能夠完成許多手工無(wú)法完成或者難以實(shí)現(xiàn)的一些測(cè)試工作。制定測(cè)試計(jì)劃的原則有哪些

　　制定測(cè)試計(jì)劃應(yīng)盡早開始保持測(cè)試計(jì)劃的靈活性保持測(cè)試計(jì)劃簡(jiǎn)潔和易讀盡量爭(zhēng)取多渠道評(píng)審測(cè)試計(jì)劃計(jì)算測(cè)試計(jì)劃的投入

　　驗(yàn)收測(cè)試的主要任務(wù)有哪些?

　　文檔資料的審查驗(yàn)收功能測(cè)試性能測(cè)試強(qiáng)化測(cè)試性能降級(jí)執(zhí)行方式測(cè)試檢查系統(tǒng)的余量要求安裝測(cè)試用戶操作測(cè)試

　　軟件測(cè)試的原則有哪些?

　　所有的測(cè)試都應(yīng)追溯到用戶需求設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)完成測(cè)試計(jì)劃，詳細(xì)的測(cè)試用例定義可在設(shè)計(jì)模型確定后開始，測(cè)試可在代碼產(chǎn)生之前進(jìn)行計(jì)劃和設(shè)計(jì)PARETO原則，測(cè)試發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤中80%很可能起源于20%的模塊中應(yīng)由獨(dú)立的第三方來(lái)構(gòu)造測(cè)試充分注意測(cè)試中的群集現(xiàn)象要盡量避免測(cè)試的隨意性兼顧合理的輸入和不合理的輸入數(shù)據(jù)程序修改后要回歸測(cè)試應(yīng)長(zhǎng)期保留測(cè)試用例，直至系統(tǒng)廢棄。

　　什么是回歸測(cè)試?回歸測(cè)試的目的是什么?

　　答：定義：是指在修改了源代碼后，用原有的測(cè)試用例進(jìn)行重新進(jìn)行測(cè)試以確認(rèn)修改沒(méi)有引入新的錯(cuò)誤或?qū)е缕渌a產(chǎn)生錯(cuò)誤。

　　目的：所做的修改達(dá)到了預(yù)定的目的，如錯(cuò)誤得到了改正，新功能得到了實(shí)現(xiàn)，能夠適應(yīng)新的運(yùn)行環(huán)境等，不影響軟件原有功能的正確性。

　　單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試的側(cè)重點(diǎn)是什么?

　　單元測(cè)試是在軟件開發(fā)過(guò)程中要進(jìn)行的最低級(jí)別的測(cè)試活動(dòng)，在單元測(cè)試活動(dòng)中，軟件的獨(dú)立單元將在與程序的其他部分相隔離的情況下進(jìn)行測(cè)試。

　　集成測(cè)試，也叫組裝測(cè)試或聯(lián)合測(cè)試。在單元測(cè)試的基礎(chǔ)上，將所有模塊按照設(shè)計(jì)要求，組裝成為子系統(tǒng)或系統(tǒng)，進(jìn)行集成測(cè)試。實(shí)踐表明，一些模塊雖然能夠單獨(dú)地工作，但并不能保證連接起來(lái)也能正常的工作。程序在某些局部反映不出來(lái)的問(wèn)題，在全局上很可能暴露出來(lái)，影響功能的實(shí)現(xiàn)。

　　系統(tǒng)測(cè)試是將經(jīng)過(guò)測(cè)試的子系統(tǒng)裝配成一個(gè)完整系統(tǒng)來(lái)測(cè)試。它是檢驗(yàn)系統(tǒng)是否確實(shí)能提供系統(tǒng)方案說(shuō)明書中指定功能的有效方法。

　　設(shè)計(jì)用例的方法、依據(jù)有那些?

　　白盒測(cè)試：邏輯覆蓋法，主要包括語(yǔ)句覆蓋，判斷覆蓋，條件覆蓋，判斷-條件覆蓋，路徑覆蓋

　　黑盒測(cè)試：等價(jià)劃分類，邊界值分析，錯(cuò)誤推測(cè)法。

　　集成測(cè)試通常都有那些策略?

　　1、在把各個(gè)模塊連接起來(lái)的時(shí)候，穿越模塊接口的數(shù)據(jù)是否會(huì)丟失;

　　2、各個(gè)子功能組合起來(lái)，能否達(dá)到預(yù)期要求的父功能;

　　3、一個(gè)模塊的功能是否會(huì)對(duì)另一個(gè)模塊的功能產(chǎn)生不利的影響;

　　4、全局?jǐn)?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)是否有問(wèn)題;

　　5、單個(gè)模塊的誤差積累起來(lái)，是否會(huì)放大，從而達(dá)到不可接受的程度。

　　一個(gè)缺陷測(cè)試報(bào)告的組成

　　缺陷的標(biāo)題，缺陷的基本信息，復(fù)現(xiàn)缺陷的操作步驟，缺陷的實(shí)際結(jié)果描述，期望的正確結(jié)果描述，注釋文字和截取的缺陷圖象。

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