2010軟考軟件設(shè)計(jì)師考前練習(xí)試題及答案解析(2)

級 別

描 述

優(yōu) 點(diǎn)

缺 點(diǎn)

RAID0

沒有容錯(cuò)設(shè)計(jì)的條帶磁盤陣列，僅提供并行交叉存取功能

有效地提高磁盤I/O速度

磁盤系統(tǒng)的可靠性不好

RAID1

具有磁盤鏡像和磁盤雙工功能

可利用并行讀/寫特性，將數(shù)據(jù)塊同時(shí)寫入主盤和鏡像盤，故比傳統(tǒng)的鏡像盤速度快

磁盤利用率只有50%

RAID2

增加了漢明碼校驗(yàn)與糾錯(cuò)（Hamming Code ECC）功能

是早期為了進(jìn)行即時(shí)數(shù)據(jù)校驗(yàn)而研制的一種技術(shù)，針對當(dāng)時(shí)對數(shù)據(jù)安全敏感的領(lǐng)域，如金融服務(wù)等

由于花費(fèi)太大，成本昂貴，目前己不用

RAID3

具有并行傳輸和校驗(yàn)功能

利用一臺(tái)奇偶校驗(yàn)盤來完成容錯(cuò)功能。比起磁盤鏡像，減少了所需的冗余磁盤數(shù)

RAID4

具有獨(dú)立的數(shù)據(jù)硬盤與共享的校驗(yàn)硬盤

與RAID 3相比，RAID 4是一種相對獨(dú)立的形式

RAID5

具有獨(dú)立的數(shù)據(jù)磁盤和分布式校驗(yàn)塊的磁盤陣列

每個(gè)驅(qū)動(dòng)器都有獨(dú)立的數(shù)據(jù)通路，獨(dú)立地進(jìn)行讀/寫，無專門的校驗(yàn)盤。用于糾錯(cuò)的校驗(yàn)信息以螺旋方式散布在所有的數(shù)據(jù)盤上。RAB5常用于I/O較頻繁的事務(wù)處理上

RAID6

具有獨(dú)立的數(shù)據(jù)硬盤與兩個(gè)獨(dú)立的分布式校驗(yàn)方案

設(shè)置了一個(gè)專用的、可快速訪問的異步校驗(yàn)盤。該盤具有獨(dú)立的數(shù)據(jù)訪問通路

其性能改進(jìn)有限，價(jià)格卻很昂貴

RAID7

具有最優(yōu)化的異步高I/O速率和高數(shù)據(jù)傳輸率的磁盤陣列

是對RAID 6級的改進(jìn)。在這種陣列中的所有磁盤，都具有較高的傳輸速度，有著優(yōu)異的性能，是目前最高檔次的磁盤陣列