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常見(jiàn)的發(fā)育障礙及缺陷
(1)多生牙:
由牙胚發(fā)生過(guò)程中異常環(huán)境因素或是遺傳因素所造成。
(2)先天性缺牙:
多為位于各段牙齒序列遠(yuǎn)中部位的牙齒。由于在牙胚發(fā)育早期階段的異常因素所致,可能與遺傳或外胚葉發(fā)育障礙有關(guān),是人類咀嚼器官演化過(guò)程中出現(xiàn)的一種現(xiàn)象。
(3)牙齒大小形態(tài)異常:
多由遺傳因素決定,是由于牙胚在發(fā)育形成分化階段出現(xiàn)異常而形成。
(4)舌形態(tài)異常:
舌的形態(tài)與其功能、壓力有關(guān)。
(5)唇系帶異常。
觀測(cè)線的基本類型
把模型固定在觀測(cè)臺(tái)上,使模型上的基牙長(zhǎng)軸與水平面呈垂直關(guān)系時(shí),或者分析桿與牙列合面成90度時(shí),固定觀測(cè)臺(tái);轉(zhuǎn)動(dòng)分析桿,用帶有直邊的鉛芯圍繞基牙牙冠軸面一周,牙冠軸面最突點(diǎn)所畫出的連線即為觀測(cè)線,又稱導(dǎo)線。
觀測(cè)線分為三種基本類型:
一型觀測(cè)線:為基牙向缺隙相反方向傾斜時(shí)所畫出的觀測(cè)線。
二型觀測(cè)線:為基牙向缺隙方向傾斜時(shí)所畫出的觀測(cè)線。
三型觀測(cè)線:為基牙向頰側(cè)或舌側(cè)傾斜時(shí)所畫出的觀測(cè)線。
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