答案：

　　試題一【問(wèn)題1】(5分)

　　知識(shí)點(diǎn)包括：

　　模塊接口測(cè)試(1分)、局部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)測(cè)試(1分)、路徑測(cè)試(1分)、錯(cuò)誤處理測(cè)試(1分)、邊界測(cè)試(1分)。

　　【問(wèn)題2】(5分)

　　知識(shí)點(diǎn)包括：

　　(1)在把各個(gè)模塊連接起來(lái)的時(shí)候，穿越模塊接口的數(shù)據(jù)是否會(huì)丟失(1分)：

　　(2)一個(gè)模塊的功能是否會(huì)對(duì)另一個(gè)模塊的功能產(chǎn)生不利的影響(1分);

　　(3)各個(gè)子功能組合起來(lái)，能否達(dá)到預(yù)期要求的父功能(l分);

　　(4)全局?jǐn)?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)是否有問(wèn)題(1分);

　　(5)單個(gè)模塊的誤差累積起來(lái)，是否會(huì)放大，從而達(dá)到不能接受的程度(1分)。

　　【問(wèn)題3】(2分)

　　知識(shí)點(diǎn)包括：

　　集成測(cè)試的主要依據(jù)是概要設(shè)計(jì)說(shuō)明書(shū)，系統(tǒng)測(cè)試的主要依據(jù)是需求設(shè)計(jì)說(shuō)明書(shū)。

　　集成測(cè)試是系統(tǒng)模塊的測(cè)試，系統(tǒng)測(cè)試是對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的測(cè)試，包括相關(guān)的軟硬件平臺(tái)、網(wǎng)絡(luò)以及相關(guān)外設(shè)的測(cè)試。

　　(答出其中2個(gè)知識(shí)點(diǎn)即可得2點(diǎn))

　　【問(wèn)題4】(3分)

　　知識(shí)點(diǎn)包括：

　　驗(yàn)收測(cè)試要在系統(tǒng)測(cè)試通過(guò)之后，交付使用之前進(jìn)行，而不是僅僅根據(jù)合同規(guī)定進(jìn)行(1分)。2004年10月初并不具備驗(yàn)收測(cè)試的條件(1分)。

　　試題二

　　【問(wèn)題1】(3分)知識(shí)點(diǎn)包括：控制流圖

　　【問(wèn)題2】(4分)

　　知識(shí)點(diǎn)包括：

　　V(G)=4

　　【問(wèn)題3】(8分)

　　知識(shí)點(diǎn)包括：

　　用例1：year是1000～2000之間不能被4整除的整數(shù)，如1001、1002、1003等(2分)。

　　用例2：year是1000～2000之間能被4整除但不能被100整除的整數(shù)，如1004、1008、1012、1016等(2分)。

　　用例3：year是1000～2000之間能被100整除但不能被400整除的整數(shù)，如1100、1300、1400、1500、1700、1800、1900(2分)。

　　用例4：year是1000～2000之間能被400整除的整數(shù)，如1200、1600、2000(2分)。

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